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抗蚀薄膜精密晶片电阻 - PR 系列

抗蚀薄膜精密晶片电阻 - PR 系列

降额曲线图
抗蚀薄膜精密晶片电阻 抗蚀薄膜精密晶片电阻

电气特性测试
项目 规格 测试方法
Size 0603/0805/
1206/2010/2512
Size 0402
短时间过负荷 ≤ ±0.02% ≤ ±0.1% RCWV*2.5 或最大过负荷电压 2 秒钟
热冲击 ≤ ±0.02% ≤ ±0.1% MIL-STD-202F Method 107G
-55°C~125°C, 100 次循环
负载寿命 ≤ ±0.05% ≤ ±0.25% MIL-STD-202F Method 108A
RCWV, 70°C, 1.5 小时开, 0.5 小时关, 共 1000~1048 小时
耐湿
(稳定状况下)
≤ ±0.05% ≤ ±0.5% MIL-STD-202F Method 103B
40°C, 90~95%RH, RCWV 1.5 小时开, 0.5小时关,
共 1000~1048 小时
耐干热性 ≤ ±0.05% ≤ ±0.5% JIS-C-5202-7.2
1000 小时 @ +155°C 无负载
抗焊温度 ≤ ±0.02% ≤ ±0.1% MIL-STD-202F Method 210E
260±5°C, 10±1 秒钟
可焊性 覆盖面最少95% MIL-STD-202F Method 208H
245°C±5°C, 3±0.5(sec)
  • 储存温度:25±3°C;湿度:<80%RH

料号说明
PR06DTRC21102 
1234567
1 型号
2 尺寸 (L×W) (单位:mm)
编码尺寸 (L×W) (单位:mm)EIA
021.00×0.50mm0402
031.60×0.80mm0603
052.00×1.25mm0805
063.00×1.50mm1206
104.90×2.40mm2010
126.30×3.10mm2512
3 公差精度
编码公差精度
B±0.10%
C±0.25%
D±0.50%
4 包装方式
编码包装方式
TR编带卷装
P散装
5 温度系数
编码温度系数
C3±25ppm/°C
C2±50ppm/°C
6 阻值
编码阻值
1000100Ω
22012200Ω
100210000Ω
110211000Ω
499249900Ω
1003100000Ω
7 标示
编码标示
 标准标示为E96/E24
N无标示

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